Контрольно-испытательное оборудование

Предназначены для измерения внешним измерителем электрических параметров микросхем в спутниках-носителях при положительных и отрицательных температурах, сортировки по группам годности.

СЭТТ предназначены для электротермотренировки интегральных микросхем различного функционального назначения с контролем состояния микросхем.

В процессе производства интегральных схем для проведения контрольно-измерительных и испытательных операций необходимо чтобы интегральные схемы находились в специальных спутниках-носителях, которые предназначены для использования в качестве операционной тары, с дальнейшей укладкой в пеналы.

Сортировщики предназначены для автоматической сортировки интегральных микросхем, помещенных в спутники-носители и загруженных в пенал.