Контрольно-измерительное оборудование
Измерители статических и динамических параметров микросхем, универсальные системы контроля цифровых СБИС и БИС, тестеры контроля статических и динамических параметров транзисторов и диодов, измерители параметров транзисторных сборок.
Измеритель статических и динамических параметров транзисторных матриц и сборок с количеством выводов контролируемых изделий до 16.
