стенд электротермотренировки для испытаний интегральных микросхем

СЭТТ ИМЭ-600-02

НАЗНАЧЕНИЕ:

Электротермотренировка интегральных микросхем различного функционального назначения с контролем состояния микросхем.

 

ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ И ОСОБЕННОСТИ:

  • Управление от ЭВМ со сбором результатов контроля микросхем в течении всего цикла тренировки.
  • В полезном объеме камеры тепла стенда размещается 15 плат загрузки;
  • Стенд обеспечивает отдельное питание 5 плат загрузки в каждой из трех групп, а так же совместное питание всех 15 плат загрузки;
  • В стенде установлены источники питания и подсистемы задания тестовых воздействий;
  • ПО стенда обеспечивает : задание режимов ЭТТ, запуск и мониторинг процесса испытаний, формирование отчетов об испытаниях и сбор статистики.

 

ХАРАКТЕРИСТИКИ Ед.изм. СЭТТ
Полезный объем камеры м3 0,12
Диапазон температур °C  +50 ÷ +150
Отклонение температуры в полезном объеме камеры от заданного значения в диапазоне от +70 ÷ +150 °C, не более °C  ±3
Характеристики источников и устройств задания тестовых воздействий:    
Количество независимых каналов источника питания шт. 4
Диапазон доступных напряжений источника питания В 0 ÷ 36 
Точность поддержания напряжения на выходе не хуже   ±(0.05%Uуст + 30мВ) 
Нагрузочная способность каждого канала источника питания А до 20 
Кол-во двунаправленных каналов цифровой подсистемы на 1 плату шт. 64 
Частота следования тестовых векторов цифрового канала МГц  до 20
Диапазон заданий уровней цифровой подсистемы:    
 - в режиме драйвера В 0,7 ÷ 12 
 - в режиме компаратора В 0,5 ÷ 11,5 
Кол-во цифровых подсистем (по одной на 1 плату загрузки) шт. до 8 
Кол-во независимых выходных аналоговых сигналов (ЦАП), на одну плату загрузки шт. 16 
Кол-во независимых входных аналоговых сигналов (АЦП), на одну плату загрузки шт. 16
Кол-во аналоговых подсистем (по одной на плату загрузки) шт. до 7 
Масса, не более кг 270 
Габаритные размеры (ДxШxВ) мм  1080х920х870

 

Скачать описание в формате PDF